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リセール/中古計測器の専門店 株式会社メジャー

膜厚計 詳細

膜厚計

弊社で取扱実績のある膜厚計のリストです。
お問い合わせの際には型番等をお知らせください。「お問合せはこちらから」　

  • 蛍光X線膜厚計 X-STRATA960A / オックスフォ－ドインスルメント
  • 蛍光X線膜厚計 XDLM-C4-PCB / フィッシャー･インスルメント
  • 蛍光膜厚測定器 XDL-B-XymZ / フィッシャー･インスルメント
  • 蛍光X線膜厚計  STF-9200 / Sii
  • 透過率/膜厚計測ユニット LV-TFM/MP / ラムダビジョン
  • 膜厚調整機能付き　フィルムアプリケーター BEVS 1806B/50 / BEVS
  • 非破壊膜厚計 D-10 / ELEC FINE
  • 2次元膜厚分布測定装置 FiDiCa（フィディカ） / JFEテクノリサーチ
  • 膜厚計 TOF-5R / 山文電気
  • 膜厚計 C13027-11 / 浜松ホトニクス
  • 膜厚計 SWT-8000Ⅱ / サンコウ電子研究所
  • 赤外線水分 膜厚測定器 FG710e / NDC
  • デュアルタイプ膜厚計 LZ-373 LZ-3730-01 / Kett
  • 膜厚測定装置 2600 / THERMAWAVE
  • 蒸着膜厚コントローラー CRTM6000 / アルバック Ulvac
  • 膜厚測定装置 NanoSpec/AFT 5100 / ナノメトリクス
  • 膜厚計(蒸着薄膜コントローラー) XTC/3SXC3S-1000 / INFICON インフィコン
  • 膜厚計（蒸着） SQM-160 / シグマ
  • 膜厚計(蒸着薄膜コントローラー) XC3S-1000 / INFICON インフィコン
  • 膜厚計　膜厚コントローラ STC-200/SQ / Sycon
  • 水晶膜厚コントローラー XTC/2 / INFICON インフィコン
  • 膜厚計 M5100A / ナノメトリックス
  • 蒸着膜厚コントローラー CRTM / アルバック Ulvac
  • 蒸着膜厚コントローラー CRTM-6000G / アルバック Ulvac
  • FISCHERSCOPE 蛍光X線膜厚計 XDVM-P / fischer
  • 触針式膜厚器 タリステップ / ランクテーラーボブソン
  • 塗料用膜厚計 モデル455 / エリクセン
  • 膜厚計 ミニテスト 70FN / エレクトロフィジック
  • 水晶膜厚計 XTC/2　757-500-G1 / INFICON インフィコン
  • エネルギー分散蛍光X線膜厚測定装置 XDVM-μ-SD-C / フィッシャー インストルメンツ
  • 膜厚測定装置(ラムダエース) STM-603 / 大日本スクリーン
  • 蛍光X線膜厚計 SFT9500 / SII セイコーインスツル
  • 蛍光X線膜厚計 SFT9200 / SII セイコーインスツル
  • 膜厚計 MiniTest 70FN / エレクトロフィジック
  • 膜厚計 M6100UV-L6 / ナノメトリクス
  • 膜厚計 M6100 / ナノメトリクス
  • 光学式膜厚計 蒸着 LSE-8 / シンクロン
  • 膜厚コントローラー IC/5 / INFICON インフィコン
  • 膜厚計(蒸着薄膜コントローラー) CYG2-1301010 / INFICON インフィコン
  • 膜厚計 スパッタ CRTM-5000 / アルバック Ulvac
  • 蛍光X線膜厚計 CMI 900 / オックスフォード
  • 水晶膜厚計 CRTM-8000 / アルバック Ulvac
  • 膜厚計 345N / エルコメーター
  • 膜厚計 345 NB-MK2 / エルコメーター
  • 膜厚計 7200-2134 / ナノメトリクス
  • 表面膜厚測定器 760 / オックスフォード
  • 電磁式デジタル膜厚計 SDM-3000 / サンコウ電子研究所
  • 膜厚計 LZ-373 / ケツト科学研究所 kett
  • 膜厚計 LH-373 / ケツト科学研究所 kett
  • 膜厚計 LE-373 / ケツト科学研究所 kett
  • 電磁式膜厚計 SP-3300D / サンコウ電子研究所
  • 電磁式膜厚計 SWT-9000F / サンコウ電子研究所
  • 電磁式ハンディ型膜厚計 FMP10 / フィッシャーインストルメンツ
  • 蛍光x線膜厚計 FT110A / 日立 HITACHI（日立ハイテク）
  • 渦電流位相式膜厚計 PMP10 / フィッシャーインストルメンツ
  • 電磁膜厚計 SL-2C-SM / サンコウ電子研究所
  • 膜厚計 ミニテスト650FN / エレクトロフィジック
  • 電磁膜厚計 本体のみ 難有り LE-200C / ケツト科学研究所 kett
  • 膜厚計 磁気誘導式 Fe-2.5付き SWT-8200Ⅱ / サンコウ電子研究所
  • 電磁・渦電流式 デュアルタイプ膜厚計 　 LZ-200J / ケツト科学研究所 kett
  • 電磁式膜厚計 SL-120C SL-120C / サンコウ電子研究所
  • 電磁膜厚計 LE-300C LE-300C / ケツト科学研究所 kett
  • デュアルタイプ膜厚計 デュアルスコープ MPOR / フィッシャーインストルメンツ
  • 超音波膜厚計 LU100 LU100 / ケツト科学研究所 kett
  • 電磁膜厚計 L2B L2B / ケツト科学研究所 kett
  • デジタル膜厚計 SM1500D / サンコウ電子研究所
  • 超音波膜厚計 ULT5000 ULT5000 / サンコウ電子研究所
  • デュアルタイプ膜厚計 LZ900J / ケツト科学研究所 kett
  • デュアルタイプ膜厚計 LZ330J LZ330J / ケツト科学研究所 kett
  • 渦電流式膜厚計 EDY-5000 / サンコウ電子研究所
  • 電磁式膜厚計 SM-1100 / サンコウ電子研究所
  • 膜厚計（電磁・渦電流） SWT-8200 / サンコウ電子研究所
  • 電磁式膜厚計 Pro-1 / サンコウ電子研究所
  • デュアルタイプ膜厚計 LZ-370 / ケツト科学研究所 kett
  • デュアルタイプ膜厚計 LZ-200C / ケツト科学研究所 kett
  • デュアルタイプ膜厚計 LZ300C / ケツト科学研究所 kett
  • 電磁式膜厚計 Pro-2 Pro-2 / サンコウ電子研究所
  • 膜厚計（電磁・渦電流） SWT-8000II / サンコウ電子研究所
  • デュアルタイプ膜厚計 SWT-9000 / サンコウ電子研究所

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